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温度与沟道掺杂对SNSFET、HS-NSFET及PHS-NSFET性能影响的综合研究

为应对纳米级晶体管在高温与掺杂条件下的性能退化问题，研究人员通过Sentaurus TCAD工具系统分析了堆叠纳米片FET（SNSFET）、H ...